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                  • EDX8000T Plus鍍層測厚光譜儀

                    材料的鍍層厚度是一個重要的生產工藝參數,鍍層厚度的控制在產品質量、過程控制、成本控制中都發揮著重要作用。英飛思開發的EDX8000T Plus鍍層測厚儀是專門針對于鍍層材料成分分析和鍍層厚度測定。其主要優點是準確,快速,無損,操作簡單,測量速度快??赏瑫r分析多達五層材料厚度,并能對鍍層的材料成分進行快速鑒定。

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                    產品價格:面議
                    廠商性質:生產廠家
                    更新日期:2023-07-13
                  • EDX8000T膜厚儀X射線鍍層測厚儀

                    膜厚儀X射線鍍層測厚儀EDX8000T 膜厚儀EDX-8000T 型XRF鍍層測厚儀/電鍍液分析儀 Simply The Best 垂直光路設計,專為鍍層厚度分析而設計 高分辨率硅針檢測器 (Si-pin) ,適合于多元素鍍層的高靈敏度分析,比起傳統的封氣正比計數器,Si-pin探測器具有更佳分辨率、更低的背景噪聲(最高 S/N 比)長期穩定性以及更長的使用壽命 工業級高清樣品觀測系統

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                    產品價格:100000
                    廠商性質:生產廠家
                    更新日期:2023-04-21
                  • EDX8000T PLUSX射線鍍層測厚儀

                    X射線鍍層測厚儀EDX8000T PLUS 微光斑垂直光路,專為鍍層厚度分析而設計 高計數率硅漂移檢測器 (SDD) 可實現快速,無損,高精度測量 高分辨率樣品觀測系統,精確的點位測量功能有助于提高測量精度 全系列標配薄膜FP無標樣分析法軟件,可同時對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進行測量

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                    產品價格:面議
                    廠商性質:生產廠家
                    更新日期:2022-10-08
                  • EDX-8000B光譜膜厚儀

                    EDX-8000B型XRF鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線能量很低,所以不會對樣品造成損壞。同時,EDX-8000B光譜膜厚儀測量的也可以在10秒-30秒內完成。

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                    產品價格:面議
                    廠商性質:生產廠家
                    更新日期:2022-10-25
                  • XRF鍍層測厚儀

                    XRF鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線能量很低,所以不會對樣品造成損壞。同時,測量的也可以在10秒-30秒內完成。

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                    產品價格:面議
                    廠商性質:生產廠家
                    更新日期:2022-10-31
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